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??GK-ICDT-B16集成電路高溫動態(tài)老化系統(tǒng)
適用于各種封裝形式的大、中、小規(guī)模數(shù)字、模擬、數(shù)模混合集成電路，包括微處理器、邏輯電路、可編程器件、存儲器、A/D、D/A等器件的工作壽命試驗和高溫動態(tài)老煉篩選。
技術(shù)特點：
①一板一區(qū)，可滿足16種不同試驗參數(shù)的器件同時老化。
②強大的圖形發(fā)生系統(tǒng)，每板有可編程的64路數(shù)字信號和
4路模擬信號。
③完善、標準的老化器件庫及各種老化板，解決了用戶的后顧之憂。
heating
高溫加熱
內(nèi)部加熱 保持不壞
真金不怕火煉，超強耐高溫
超級耐高溫
保持高品質(zhì)
內(nèi)部加熱原理
服務(wù)熱線
0571-8585 6333
聯(lián)系郵箱：gk@hzgkdz.com
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